分析测试中心(电镜中心)精准和原位成像球差校正透射电镜系统顺利通过验收

发布者:分析测试中心发布时间:2023-11-20浏览次数:93

20231116日下午,分析测试中心(电镜中心)精准和原位成像球差校正透射电镜系统验收会在朝晖校区电镜中心举行。浙江工业大学分析测试中心朱艺涵教授、郑遗凡教授,材料学院曹澥宏教授、彭永武研究员,复旦大学郑长林研究员、西湖大学周桃飞研究员、浙江大学袁文涛研究员以及校实验室资产与管理处蔡军,采购中心尚冉冉,纪检中心杜艳红等20余人参加了本次验收会。

   

验收会上,蔡军首先感谢了与会专家的莅临指导和项目团队的辛勤付出。随后,电镜中心相关老师及供应商代表对环境球差校正透射电子显微镜、双球差校正透射电子显微镜、双束聚焦离子束微纳加工仪和冷冻超薄切片机等项目相关设备的基本情况进行了详细介绍,并展示了空间分辨率、能量分辨率等多项核心技术指标的测试数据。总体而言,两套大型设备及周围设施都表现出了良好的性能,达到设备验收的技术指标。随后,专家小组全体人员来到电镜中心对相关各个仪器及配件数量、规格和型号进行了现场核验。整个过程中专家小组对设备运行情况进行了提问并给出了宝贵的意见和建议。最后,经项目验收小组专家质询和讨论、现场核验:仪器及配件数量、规格和型号与合同清单一致;仪器测试数据(含空间分辨率、能量分辨率等各项性能指标)均符合合同指标要求。专家小组一致同意通过验收。

            

    

作为电镜中心的高端科研设备,两套设备的投入运行对相关学科开展教学和科研工作具有重要意义。同时,该设备还将纳入浙江工业大学大型仪器共享平台和浙江省大型仪器共享平台,面向全校和全社会开放共享。


附录:设备简介

       双球差校正透射电镜Spectra 300(赛默飞世尔科技公司)拥有像差校正、最高分辨率的扫描透射电子显微成像功能(Scanningtransmission electron microscopy, STEM),配备超高能量分辨率 X-FEG/UltiMono场发射枪,可在加速电压30  300 kV 范围内工作,广泛应用于材料、化学、生物科学及交叉学科领域。STEM提供分辨率指标为:300kV下达到50 pm60 kV下达到96 pm30 kV下达到125 pm;配置 Super-X超高灵敏度EDS能谱,对于部分样品能够实现原子分辨的能谱分析;配备高灵敏度、高分辨率电子能量过滤成像系统,能够实现部分材料原子尺度电子结构的精细探测(如价态、杂化、等离激元共振等信息)。

环境球差校正透射电镜Titan Themis拥有基于像差校正功能的原子分辨透射电子显微成像功能(Atomic-resolution transmission electron microscopy, TEM),标准分辨率 TEM<0.1nm;环境模式分辨率(<0.5mbar气氛):TEM<0.12nm;配备超高能量分辨率X-FEG场发射枪,可在加速电压60 300 kV范围内工作;同时配备高灵敏度、高分辨率电子能量过滤成像系统,能够实现部分材料局域结构的精细探测(如价态、杂化、等离激元共振等信息),广泛应用于材料、化学、生物医学、环境科学、物理等学科领域。该设备的主要特色是:1)研究在温度和气体等外场条件下的原子级化学反应;2)电子束敏感材料体系原子级高分辨成像表征。



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